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L’équipe SMARTIES est une équipe d’une trentaine de chercheurs dont les activités sont centrées sur les méthodes de conception et la modélisation de dispositifs, systèmes et circuits intégrés conçus en technologie CMOS, à l’aide de technologies émergentes (CNT, CNTFET, MRAM, …), selon des approches de conception alternatives (3D, adiabatique, etc.).

L’ensemble de ces travaux visent à développer des systèmes et circuits intégrés offrant de hautes performances et une consommation d’énergie réduite, mais également des circuits adaptatifs à leur état de fonctionnement et à l’environnement de sorte à garantir la fonctionnalité, la sureté et la sécurité des informations traitées ou bien satisfaire des contraintes applicatives spécifiques.

Dans cette démarche SmartIES se caractérise par sa volonté de conduire les approches théoriques jusqu’à des démonstrateurs expérimentaux ou des bancs de mesure. Au cours des cinq dernières années, on peut noter de nombreux travaux ayant contribué à des réalisations matérielles (ASIC, plateformes expérimentales dédiées, prototypes matériels et/ou logiciels) et conduit à des transferts technologiques.

Open Access Files

64 %

Nombre de Fichiers déposés

242

Nombre de Notices déposées

144

Politique des éditeurs en matière de dépôt dans une archive ouverte

Cartographie des collaborations

Tags

Test efficiency Edge AI Test confidence Carbon nanotubes Beyond-CMOS devices Oscillatory Neural Networks Reliability Process variability Test cost reduction Phase shifter Magnetic tunneling Deep learning Side-channel attacks Bioimpedance spectroscopy RSA MEMS Indirect test Countermeasures ADC Integrated circuit testing Oscillatory Neural Network Microprocessors Logic gates Switches Quantum computing Hardware security OQPSK Insulator-Metal-Transition IMT Self-heating FDSOI technology Self-oscillations Oscillatory neural network Fault attacks Qubit Electrothermal simulation Oscillatory neural networks ONN Edge artificial intelligence edge AI Test Circuit simulation Convective accelerometer Electronic tagging SRAM One bit acquisition Current mirror Analog signals Digital signal processing Fault tolerance Neuromorphic computing RF test Time-domain analysis Transistors Education Bioimpedance Phase noise Bio-logging Digital ATE Image Edge Detection Alternate testing SEU Side-channel analysis Sensors Three-dimensional displays Carbon nanotube Low-power Integrated circuit noise Energy 1-bit acquisition Calibration Error mitigation Vanadium dioxide Technology computer-aided design TCAD Delays 3D integration RF integrated circuits Computer architecture Circuit faults Interconnects Automatic test pattern generation Indirect testing Noise NP-hard problems Evaluation Specifications Hardware Machine-learning algorithms ZigBee Power demand Quantum Mutual information Through-silicon vias Ensemble methods Noise measurement Three-dimensional integrated circuits EM fault injection Analog/RF integrated circuits Performance Pattern recognition Integrated circuit modeling Low-cost measurements Integrated circuits