Micro-diffraction Investigation of Localized Strain in Mesa-etched HgCdTe Photodiodes

Aymeric Tuaz; Philippe Ballet; Xavier Biquard; François Rieutord

doi:10.1007/s11664-017-5691-6

Article Dans Une Revue Journal of Electronic Materials Année : 2017

Micro-diffraction Investigation of Localized Strain in Mesa-etched HgCdTe Photodiodes

(1) , (2) , (3) , (3)

1
2
3

Aymeric Tuaz

Fonction : Auteur

Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information

Philippe Ballet

Fonction : Auteur
PersonId : 915678

Département d'Optronique

Xavier Biquard

Fonction : Auteur
PersonId : 172065
IdHAL : xavier-biquard
ORCID : 0000-0002-7948-1833
IdRef : 22821078X

Nanostructures et Rayonnement Synchrotron

François Rieutord

Fonction : Auteur
PersonId : 170248
IdHAL : francois-rieutord
ORCID : 0000-0003-4697-3652
IdRef : 033177848

Nanostructures et Rayonnement Synchrotron

Domaines

Mécanique des matériaux [physics.class-ph] Physique Générale [physics.gen-ph]

FRANCOIS RIEUTORD : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-01974417

Soumis le : mardi 8 janvier 2019-17:34:36

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:16:31

Dates et versions

hal-01974417 , version 1 (08-01-2019)

Identifiants

HAL Id : hal-01974417 , version 1
DOI : 10.1007/s11664-017-5691-6

Citer

Aymeric Tuaz, Philippe Ballet, Xavier Biquard, François Rieutord. Micro-diffraction Investigation of Localized Strain in Mesa-etched HgCdTe Photodiodes. Journal of Electronic Materials, 2017, 46 (9), pp.5442-5447. ⟨10.1007/s11664-017-5691-6⟩. ⟨hal-01974417⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CEA UGA INAC-SP2M DRT CEA-DRF LETI IRIG CEA-GRE

139 Consultations

0 Téléchargements

Micro-diffraction Investigation of Localized Strain in Mesa-etched HgCdTe Photodiodes

Domaines

Dates et versions

Identifiants

Citer

Exporter

Collections

Altmetric

Partager