Article Dans Une Revue
Review of Scientific Instruments
Année : 2016
Dominique GIRARD : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://cea.hal.science/cea-01481549
Soumis le : jeudi 2 mars 2017-16:58:06
Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-11:50:08
Citer
N. Barrett, D. M. Gottlob, C. Mathieu, C. Lubin, J. Passicousset, et al.. Operando x-ray photoelectron emission microscopy for studying forward and reverse biased silicon p-n junctions. Review of Scientific Instruments, 2016, 87 (5), ⟨10.1063/1.4948597⟩. ⟨cea-01481549⟩
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