Banc de test de composants en avalanche a fort courant (200A) pendant des temps courts (2 µs) - Archive ouverte HAL Access content directly
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Banc de test de composants en avalanche a fort courant (200A) pendant des temps courts (2 µs)

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Abstract

Les besoins en alimentations de puissance, du nouveau projet d'enrichissement de l'uranium SILVA (Séparation Isotopique par Laser de la Vapeur Atomique d'uranium), sont à l'origine d'études menées depuis 5 ans au Laboratoire d'Electronique de Puissance du C.E.A. Pierrelatte pour remplacer les tubes dans les commutateurs haute tension. Les travaux ont concerné les alimentations de puissance avec commutations sous haute tension utilisant les structures de mise en série et mise en matrice de petits composants standards de puissance. Nous présentons ici une machine de test permettant de caractériser l'aptitude à l'écrêtage de composants (MOS, IGBT, diode) en régime extrême : jusqu'à 200 A durant 2 µs.
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EPF 98 Banc de test de composants en avanlanche .pdf (678.6 Ko) Télécharger le fichier
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Dates and versions

cea-03293827 , version 1 (21-07-2021)

Identifiers

  • HAL Id : cea-03293827 , version 1

Cite

Yvan Lausenaz, Daniel Chatroux, Dominique Lafore, Jean-Michel Li. Banc de test de composants en avalanche a fort courant (200A) pendant des temps courts (2 µs). EPF'98 - Electronique de Puissance du Futur, Dec 1998, Belfort, France. ⟨cea-03293827⟩

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