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Conference papers
High-precision measurements of reflectance
Philippe Voarino 1
Author IdHAL : philippe-voarino ORCID : https://orcid.org/0000-0003-0062-2072
Sébastien Petitrenaud
Author
Hervé Piombini 2
Author
Frédéric Sabary 2
Author
Daniel Marteau
Author
1
FRESNEL - Institut FRESNEL (Faculté des Sciences et Techniques
avenue Escadrille Normandie Niemen
13 397 Marseille cedex 20 - France)
- AMU - Aix Marseille Université : UMR7249/ UMR 6133 (Aix-Marseille Université Jardins du Pharo 58 Boulevard Charles Livon 13284 Marseille cedex 7 - France)
- ECM - École Centrale de Marseille (Pôle de l'étoile - Technopole de Château-Gombert - 38 rue Frédéric Joliot-Curie - 13013 Marseille - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7249/ UMR 6133 (France)
2
CEA Le Ripault - CEA Le Ripault (BP 16 37260 Monts - France)
- DAM - Direction des Applications Militaires : DAM/RIPAULT (France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DAM (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
Document type :
Conference papers
Domain :
Complete list of metadata
https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-02912509
Contributor : Philippe Voarino <>
Submitted on : Thursday, August 6, 2020 - 9:34:10 AM
Last modification on : Thursday, April 1, 2021 - 4:13:50 PM
Contributor : Philippe Voarino <>
Submitted on : Thursday, August 6, 2020 - 9:34:10 AM
Last modification on : Thursday, April 1, 2021 - 4:13:50 PM
Identifiers
- HAL Id : cea-02912509, version 1
- DOI : 10.1117/12.692235
Citation
Philippe Voarino, Sébastien Petitrenaud, Hervé Piombini, Frédéric Sabary, Daniel Marteau. High-precision measurements of reflectance. International Optical Design Conference, SPIE-OSA, Jun 2006, Vancouver, Canada. pp.63421Z, ⟨10.1117/12.692235⟩. ⟨cea-02912509⟩
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