Article Dans Une Revue
MRS Advances
Année : 2016
Florent Lebreton : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://cea.hal.science/cea-02528988
Soumis le : jeudi 2 avril 2020-09:37:24
Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-10:26:03
Citer
E. Epifano, R. Belin, J-C Richaud, Romain Vauchy, M. Strach, et al.. In-situ High Temperature X-ray Diffraction Study of the Am-O System. MRS Advances, 2016, 1 (62), pp.4133-4137. ⟨10.1557/adv.2017.200⟩. ⟨cea-02528988⟩
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