In-situ High Temperature X-ray Diffraction Study of the Am-O System - CEA - Commissariat à l’énergie atomique et aux énergies alternatives Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue MRS Advances Année : 2016

In-situ High Temperature X-ray Diffraction Study of the Am-O System

Fichier non déposé

Dates et versions

cea-02528988 , version 1 (02-04-2020)

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Citer

E. Epifano, R. Belin, J-C Richaud, Romain Vauchy, M. Strach, et al.. In-situ High Temperature X-ray Diffraction Study of the Am-O System. MRS Advances, 2016, 1 (62), pp.4133-4137. ⟨10.1557/adv.2017.200⟩. ⟨cea-02528988⟩
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