P. M. Ajayan, Chem. Rev, vol.99, pp.1787-1799, 1999.

R. Saito, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Physical Properties of Carbon Nanotubes, 1998.

P. J. Harris, Carbon Nanotubes and Related Structures: New Materials for the Twenty-First Century, 1999.

S. S. Wong, A. T. Woolley, E. Joselevich, C. L. Cheung, and C. M. Lieber, J. Am. Chem. Soc, vol.120, pp.8557-8558, 1998.

J. Chen, A. M. Rao, S. Lyuksyutov, M. E. Itkis, M. A. Hamon et al., J. Phys. Chem. B, vol.105, pp.2525-2528, 2001.

E. T. Mickelson, I. W. Chiang, J. L. Zimmerman, P. J. Boul, J. Lozano et al., J. Phys. Chem. B, vol.103, pp.4318-4322, 1999.

J. Kong, M. G. Chapline, and H. Dai, Adv. Mater, vol.13, pp.1384-1386, 2001.

Z. Liu, Z. Shen, T. Zhu, S. Hou, and L. Ying, Langmuir, vol.16, pp.3569-3573, 2000.

D. Chattopadhyay, I. Galeska, and F. Papadimitrakopoulos, J. Am. Chem. Soc, vol.123, pp.9451-9452, 2001.

S. Delpeux, K. Metenier, R. Benoit, F. Vivet, L. Boufendi et al., AIP Conference Proceedings, vol.486, pp.470-473, 1999.

A. Hirsch, Angew. Chem. Int. Ed, vol.41, pp.1853-1859, 2002.

M. A. Hamon, J. Chen, H. Hu, Y. Chen, M. E. Itkis et al., Adv. Mater, vol.11, pp.834-840, 1999.

M. A. Hamon, H. Hu, P. Bhowmik, S. Niyogi, B. Zhao et al., Chem. Phys. Lett, vol.347, pp.8-12, 2001.

P. J. Boul, E. T. Mickelson, C. B. Huffman, L. M. Ericson, I. W. Chiang et al., Chem. Phys. Lett, vol.310, pp.367-372, 1999.

M. Holzinger, O. Vostrowsky, A. Hirsch, F. Hennrich, M. Kappes et al., Angew. Chem. Int. Ed, vol.40, pp.4002-4005, 2000.

X. Wang, Y. Liu, W. Qiu, and D. Zhu, J. Mater. Chem, vol.12, pp.1636-1639, 2002.

B. Vigolo, A. Pénicaud, C. Coulon, C. Sauder, R. Pailler et al., Science, vol.290, pp.1331-1334, 2000.

M. J. O'connell, P. J. Boul, L. M. Ericson, C. Huffman, Y. Wang et al., Chem. Phys. Lett, vol.342, pp.265-271, 2001.

B. W. Smith, M. Monthioux, and D. E. Luzzi, Chem. Phys. Lett, vol.315, pp.31-36, 1999.

M. Delamar, R. Hitmi, J. Pinson, and J. Savéant, J. Am. Chem. Soc, vol.114, pp.5883-5884, 1992.

C. P. Andrieux, F. Gonzales, and J. M. Savéant, J. Am. Chem. Soc, vol.119, p.4292, 1997.

Y. Liu and R. L. Mccreery, J. Am. Chem. Soc, vol.117, pp.11254-11259, 1995.

M. Delamar, G. Désarmot, O. Fagebaume, R. Hitmi, J. Pinson et al., Carbon, vol.35, pp.801-807, 1997.

E. Coulon, J. Pinson, J. Bourzat, A. Commerçon, and J. P. Pulicani, Langmuir, vol.17, pp.7102-7106, 2001.

J. A. Belmont, R. M. Amici, and P. Galloway, Patent PCT Int. Appl. WO, vol.96, pp.18688-18689

J. L. Bahr, J. Yang, D. V. Kosynkin, M. J. Bronikowski, R. E. Smalley et al., J. Am. Chem. Soc, vol.123, pp.6536-6542, 2001.

S. E. Kooi, U. Schlecht, M. Burghard, and K. Kern, Angew. Chem. Int. Ed, vol.41, pp.1353-1355, 2002.

P. Nikolaev, M. J. Bronikowski, R. K. Bradley, F. Rohmund, D. T. Colbert et al., Chem. Phys. Lett, vol.313, pp.91-97, 1999.

E. Coulon, J. Pinson, J. Bourzat, A. Commerçon, and J. P. Pulicani, Langmuir, vol.17, pp.7102-7106, 2001.

P. R. Marcoux, J. Schreiber, P. Batail, S. Lefrant, J. Renouard et al., Phys. Chem. Chem. Phys, vol.4, pp.2278-2285, 2002.

J. C. Vickerman, Surface Analysis: The Principal Techniques, 1997.

P. Cadman, G. Gossedge, and J. D. Scott, J. Elect. Spectrosc. Rel. Phenom, vol.13, pp.1-6, 1978.

J. L. Bahr, E. T. Mickelson, M. J. Bronikowski, R. E. Smalley, and J. M. Tour, Chem. Commun, pp.193-194, 2001.

E. T. Mickelson, C. B. Huffman, A. G. Rinzler, R. E. Smalley, R. H. Hauge et al., Chem. Phys. Lett, vol.296, pp.188-194, 1998.

K. F. Kelly, I. W. Chiang, E. T. Mickelson, R. H. Hauge, J. L. Margrave et al., Chem. Phys. Lett, vol.313, pp.445-450, 1999.

J. K. Kariuki and M. T. Mcdermott, Langmuir, vol.15, pp.6534-6540, 1999.

M. Knez, M. Sumser, A. M. Bittner, C. Wege, H. Jeske et al., J. Electroanal. Chem, vol.522, pp.70-74, 2002.

J. L. Bahr and J. M. Tour, Chem. Mater, vol.13, pp.3823-3824, 2001.

P. M. Ajayan, Chem. Rev, vol.99, pp.1787-1799, 1999.

R. Saito, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Physical Properties of Carbon Nanotubes, 1998.

P. J. Harris, Carbon Nanotubes and Related Structures: New Materials for the Twenty-First Century, 1999.

S. S. Wong, A. T. Woolley, E. Joselevich, C. L. Cheung, and C. M. Lieber, J. Am. Chem. Soc, vol.120, pp.8557-8558, 1998.

J. Chen, A. M. Rao, S. Lyuksyutov, M. E. Itkis, M. A. Hamon et al.,

D. T. Eklund, R. E. Colbert, R. C. Smalley, and . Haddon, J. Phys. Chem. B, vol.105, pp.2525-2528, 2001.

E. T. Mickelson, I. W. Chiang, J. L. Zimmerman, P. J. Boul, J. Lozano et al.,

J. L. Hauge and . Margrave, J. Phys. Chem. B, vol.103, pp.4318-4322, 1999.

J. Kong, M. G. Chapline, and H. Dai, Adv. Mater, vol.13, pp.1384-1386, 2001.

Z. Liu, Z. Shen, T. Zhu, S. Hou, and L. Ying, Langmuir, vol.16, pp.3569-3573, 2000.

D. Chattopadhyay, I. Galeska, and F. Papadimitrakopoulos, J. Am. Chem. Soc, vol.123, pp.9451-9452, 2001.

S. Delpeux, K. Metenier, R. Benoit, F. Vivet, L. Boufendi et al., AIP Conference Proceedings, vol.486, pp.470-473, 1999.

A. Hirsch, Angew. Chem. Int. Ed, vol.41, pp.1853-1859, 2002.

M. A. Hamon, J. Chen, H. Hu, Y. Chen, M. E. Itkis et al., Adv. Mater, vol.11, pp.834-840, 1999.

M. A. Hamon, H. Hu, P. Bhowmik, S. Niyogi, B. Zhao et al., Chem. Phys. Lett, vol.347, pp.8-12, 2001.

P. J. Boul, E. T. Mickelson, C. B. Huffman, L. M. Ericson, I. W. Chiang et al.,

R. H. Colbert, J. L. Hauge, R. E. Margrave, and . Smalley, Chem. Phys. Lett, vol.310, pp.367-372, 1999.

M. Holzinger, O. Vostrowsky, A. Hirsch, F. Hennrich, M. Kappes et al., Angew. Chem. Int. Ed, vol.40, issue.16, pp.1636-1639, 2000.

B. Vigolo, A. Pénicaud, C. Coulon, C. Sauder, R. Pailler et al., Science, vol.290, pp.1331-1334, 2000.

M. J. O'connell, P. J. Boul, L. M. Ericson, C. Huffman, Y. Wang et al., Chem. Phys. Lett, vol.342, pp.265-271, 2001.

B. W. Smith, M. Monthioux, and D. E. Luzzi, Chem. Phys. Lett, vol.315, pp.31-36, 1999.

M. Delamar, R. Hitmi, J. Pinson, and J. Savéant, J. Am. Chem. Soc, vol.114, pp.5883-5884, 1992.

P. Allongue, M. Delamar, B. Desbat, O. Fagebaume, R. Hitmi et al.,

Y. Liu and R. L. Mccreery, J. Am. Chem. Soc, vol.117, issue.22, pp.11254-11259, 1995.

M. Delamar, G. Désarmot, O. Fagebaume, R. Hitmi, J. Pinson et al., Carbon, vol.35, pp.801-807, 1997.

E. Coulon, J. Pinson, J. Bourzat, A. Commerçon, and J. P. Pulicani, Langmuir, vol.17, pp.7102-7106, 2001.

J. A. Belmont, R. M. Amici, and P. Galloway, Patent PCT Int. Appl. WO, vol.96, pp.18688-18689

J. L. Bahr, J. Yang, D. V. Kosynkin, M. J. Bronikowski, R. E. Smalley et al.,

, Chem. Soc, vol.123, pp.6536-6542, 2001.

S. E. Kooi, U. Schlecht, M. Burghard, and K. Kern, Angew. Chem. Int. Ed, vol.41, pp.1353-1355, 2002.

P. Nikolaev, M. J. Bronikowski, R. K. Bradley, F. Rohmund, D. T. Colbert et al.,

. Smalley, Chem. Phys. Lett, vol.313, pp.91-97, 1999.

E. Coulon, J. Pinson, J. Bourzat, A. Commerçon, and J. P. Pulicani, Langmuir, vol.17, pp.7102-7106, 2001.

P. R. Marcoux, J. Schreiber, P. Batail, S. Lefrant, J. Renouard et al.,

. Mevellec, Phys. Chem. Chem. Phys, vol.4, pp.2278-2285, 2002.

J. C. Vickerman, Surface Analysis: The Principal Techniques, 1997.

P. Cadman, G. Gossedge, and J. D. Scott, J. Elect. Spectrosc. Rel. Phenom, vol.13, pp.1-6, 1978.

J. L. Bahr, E. T. Mickelson, M. J. Bronikowski, R. E. Smalley, and J. M. Tour, Chem. Commun, pp.193-194, 2001.

E. T. Mickelson, C. B. Huffman, A. G. Rinzler, R. E. Smalley, R. H. Hauge et al., Chem. Phys. Lett, vol.296, pp.188-194, 1998.

K. F. Kelly, I. W. Chiang, E. T. Mickelson, R. H. Hauge, J. L. Margrave et al.,

C. Scuseria, N. J. Radloff, and . Halas, Chem. Phys. Lett, vol.313, pp.445-450, 1999.

J. K. Kariuki and M. T. Mcdermott, Langmuir, vol.15, pp.6534-6540, 1999.

M. Knez, M. Sumser, A. M. Bittner, C. Wege, H. Jeske et al., J. Electroanal. Chem, vol.522, pp.70-74, 2002.