Développement de l'ablation laser en champ proche couplée à l'ICP-MS pour l'analyse élémentaire et isotopique sub-micrométrique d’échantillons solides

Fredéric Chartier (1) , Arnaud Etcheberry (2, 1) , J.-L. Lacour (1) , Michel Tabarant (3, 1) , Alexandre Semerok (4, 1) , Thomas Vercouter (1) , Hicham Maskrot (1) , Damien Aureau (2)

1 DPC - Département de Physico-Chimie
2 ILV - Institut Lavoisier de Versailles
3 LANIE - Laboratoire de développement Analytique Nucléaire Isotopique et Elémentaire
4 SEARS - Service d'études analytiques et de réactivité des surfaces

Les techniques d’analyse à résolution latérale nanométrique sont indispensables pour la nano imagerie et la nano caractérisation dans de nombreux domaines de recherche; comme ceux des matériaux (étude d’homogénéité, étude des mécanismes de corrosion), des sciences du vivant et des sciences de la terre. L’ablation laser en champ proche couplée à l’ICP-MS permet d’obtenir une résolution latérale à l’échelle nanométrique contrairement à l’ablation classique qui est limitée par la diffraction de la lumière (Critère de Rayleigh) et par conséquent une résolution latérale limitée à quelques $\mu$m. Les travaux sur ce sujet sont peu abondants. Cette thèse vise à répondre aux besoins d’analyse qualitative et quantitative à l’échelle sub-micrométrique en utilisant une méthode d’analyse et de cartographie élémentaire innovante qui combine un laser, un microscope à force atomique AFM et un ICP-MS haute résolution.

Domains: Nuclear Theory [nucl-th]; Nuclear Experiment [nucl-ex]

Fredéric Chartier, Arnaud Etcheberry, J.-L. Lacour, Michel Tabarant, Alexandre Semerok, et al.. Développement de l'ablation laser en champ proche couplée à l'ICP-MS pour l'analyse élémentaire et isotopique sub-micrométrique d’échantillons solides. ED 388 - Ecole doctorale: Chimie physique et chimie analytique de Paris Centre, Paris VI, May 2015, Paris, France. ⟨cea-02499895⟩