Développement de l'ablation laser en champ proche couplée à l'ICP-MS pour l'analyse élémentaire et isotopique sub-micrométrique d’échantillons solides - Archive ouverte HAL Access content directly
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Développement de l'ablation laser en champ proche couplée à l'ICP-MS pour l'analyse élémentaire et isotopique sub-micrométrique d’échantillons solides

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Abstract

Les techniques d’analyse à résolution latérale nanométrique sont indispensables pour la nano imagerie et la nano caractérisation dans de nombreux domaines de recherche; comme ceux des matériaux (étude d’homogénéité, étude des mécanismes de corrosion), des sciences du vivant et des sciences de la terre. L’ablation laser en champ proche couplée à l’ICP-MS permet d’obtenir une résolution latérale à l’échelle nanométrique contrairement à l’ablation classique qui est limitée par la diffraction de la lumière (Critère de Rayleigh) et par conséquent une résolution latérale limitée à quelques $\mu$m. Les travaux sur ce sujet sont peu abondants. Cette thèse vise à répondre aux besoins d’analyse qualitative et quantitative à l’échelle sub-micrométrique en utilisant une méthode d’analyse et de cartographie élémentaire innovante qui combine un laser, un microscope à force atomique AFM et un ICP-MS haute résolution.
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cea-02499895 , version 1 (05-03-2020)

Identifiers

  • HAL Id : cea-02499895 , version 1

Cite

Fredéric Chartier, Arnaud Etcheberry, J.-L. Lacour, Michel Tabarant, Alexandre Semerok, et al.. Développement de l'ablation laser en champ proche couplée à l'ICP-MS pour l'analyse élémentaire et isotopique sub-micrométrique d’échantillons solides. ED 388 - Ecole doctorale: Chimie physique et chimie analytique de Paris Centre, Paris VI, May 2015, Paris, France. ⟨cea-02499895⟩
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