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Conference papers

Développement de l'ablation laser en champ proche couplée à l'ICP-MS pour l'analyse élémentaire et isotopique sub-micrométrique d’échantillons solides

Abstract : Les techniques d’analyse à résolution latérale nanométrique sont indispensables pour la nano imagerie et la nano caractérisation dans de nombreux domaines de recherche; comme ceux des matériaux (étude d’homogénéité, étude des mécanismes de corrosion), des sciences du vivant et des sciences de la terre. L’ablation laser en champ proche couplée à l’ICP-MS permet d’obtenir une résolution latérale à l’échelle nanométrique contrairement à l’ablation classique qui est limitée par la diffraction de la lumière (Critère de Rayleigh) et par conséquent une résolution latérale limitée à quelques $\mu$m. Les travaux sur ce sujet sont peu abondants. Cette thèse vise à répondre aux besoins d’analyse qualitative et quantitative à l’échelle sub-micrométrique en utilisant une méthode d’analyse et de cartographie élémentaire innovante qui combine un laser, un microscope à force atomique AFM et un ICP-MS haute résolution.
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https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-02499895
Contributor : Amplexor Amplexor <>
Submitted on : Thursday, March 5, 2020 - 3:50:02 PM
Last modification on : Thursday, June 25, 2020 - 2:54:34 PM
Long-term archiving on: : Saturday, June 6, 2020 - 4:00:06 PM

File

201500002299.pdf
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Identifiers

  • HAL Id : cea-02499895, version 1

Citation

Fredéric Chartier, Arnaud Etcheberry, J.-L. Lacour, Michel Tabarant, Alexandre Semerok, et al.. Développement de l'ablation laser en champ proche couplée à l'ICP-MS pour l'analyse élémentaire et isotopique sub-micrométrique d’échantillons solides. ED 388 - Ecole doctorale: Chimie physique et chimie analytique de Paris Centre, Paris VI, May 2015, Paris, France. ⟨cea-02499895⟩

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