A. Etcheberry, D. Aureau, C. Jabbour, J.-L. Lacour, M. Tabarant, et al.. Developpement de l'ablation laser en champ proche couplee a l'ICP-MS pour l'analyse sub-micrometrique des echantillons solides..
Seminaire annuel du DIM ANALYTICS, Jan 2016, Paris, France.
⟨cea-02431808⟩