Fabrication and Electrical Characterization of tunnel FET Devices Based on Si/SiGe Heterojunction PIN nanowires - CEA - Commissariat à l’énergie atomique et aux énergies alternatives Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Fabrication and Electrical Characterization of tunnel FET Devices Based on Si/SiGe Heterojunction PIN nanowires

Fichier non déposé

Dates et versions

cea-02067075 , version 1 (14-03-2019)

Identifiants

  • HAL Id : cea-02067075 , version 1

Citer

Virginie Brouzet, Bassem Salem, Priyanka Periwal, Thierry Baron, Franck Bassani, et al.. Fabrication and Electrical Characterization of tunnel FET Devices Based on Si/SiGe Heterojunction PIN nanowires. 2014 E-MRS Fall Meeting: Symposium B: Materials for Optics and Optoelectronics, G. Ben Assayag, M. Perego and P. Pellegrino, Sep 2014, Warsaw, Poland. ⟨cea-02067075⟩
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