Article Dans Une Revue
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
Année : 2014
Emmanuel HADJI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://cea.hal.science/cea-01996778
Soumis le : lundi 28 janvier 2019-15:40:54
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:09
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : cea-01996778 , version 1
- DOI : 10.1088/1757-899X/68/1/012005
Citer
Y Liu, D. Tainoff, M. Boukhari, Jacques Richard, A. Barski, et al.. Sensitive 3-omega measurements on epitaxial thermoelectric thin films. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, 2014, 68, pp.012005. ⟨10.1088/1757-899X/68/1/012005⟩. ⟨cea-01996778⟩
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