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Journal articles
Operando x-ray photoelectron emission microscopy for studying forward and reverse biased silicon p-n junctions
N. Barrett
1
D. M. Gottlob
2
C. Mathieu
1
C. Lubin
1
J. Passicousset
1
O. Renault
3
E. Martinez
4
1
LENSIS - Laboratoire d'Etude des NanoStructures et Imagerie de Surface
SPEC - UMR3680 - Service de physique de l'état condensé, IRAMIS - Institut Rayonnement Matière de Saclay
1
LENSIS - Laboratoire d'Etude des NanoStructures et Imagerie de Surface (CEA Saclay, DSM/IRAMIS, 91191 Gif sur Yvette cedex - France)
- SPEC - UMR3680 - Service de physique de l'état condensé (SPEC - UMR3680 CEA-CNRS
(ex-URA 2464),
CEA/Saclay,
Orme des Merisiers,
F-91191 GIF SUR YVETTE CEDEX - France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRF/IRAMIS (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
- Université Paris-Saclay (Espace Technologique, Bat. Discovery - RD 128 - 2e ét., 91190 Saint-Aubin - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR3680 (France)
- IRAMIS - Institut Rayonnement Matière de Saclay (91191 Gif-sur-Yvette, France - France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRF/IRAMIS (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
- Université Paris-Saclay (Espace Technologique, Bat. Discovery - RD 128 - 2e ét., 91190 Saint-Aubin - France)
2
Peter Grünberg Institute (Germany)
- Forschungszentrum Jülich GmbH (Wilhelm-Johnen-Straße, 52428 Jülich - Germany)
3
CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (MINATEC 17, rue des Martyrs, 38054, Grenoble Cedex 9 - France)
- DRT (CEA) - Direction de Recherche Technologique (CEA) : DRT (France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRT (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
4
CRO2 - Centre de Recherches en Oncologie biologique et Oncopharmacologie (Faculté de Médecine et Faculté de Pharmacie - 27 Boulevard Jean Moulin 13385 Marseille cedex 05
- France)
- INSERM - Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale : U911 (101, rue de Tolbiac, 75013 Paris - France)
- TIMONE - Hôpital de la Timone [CHU - APHM] : U911 (France)
- AMU - Aix Marseille Université : U911 (Aix-Marseille Université Jardins du Pharo 58 Boulevard Charles Livon 13284 Marseille cedex 7 - France)
Document type :
Journal articles
Domain :
Complete list of metadata
https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-01481549
Contributor : Dominique Girard <>
Submitted on : Thursday, March 2, 2017 - 4:58:06 PM
Last modification on : Saturday, March 6, 2021 - 3:08:48 AM
Contributor : Dominique Girard <>
Submitted on : Thursday, March 2, 2017 - 4:58:06 PM
Last modification on : Saturday, March 6, 2021 - 3:08:48 AM
Identifiers
- HAL Id : cea-01481549, version 1
- DOI : 10.1063/1.4948597
Collections
Citation
N. Barrett, D. M. Gottlob, C. Mathieu, C. Lubin, J. Passicousset, et al.. Operando x-ray photoelectron emission microscopy for studying forward and reverse biased silicon p-n junctions. Review of Scientific Instruments, American Institute of Physics, 2016, 87 (5), ⟨10.1063/1.4948597⟩. ⟨cea-01481549⟩
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