Operando x-ray photoelectron emission microscopy for studying forward and reverse biased silicon p-n junctions

N. Barrett; D. M. Gottlob; C. Mathieu; C. Lubin; J. Passicousset; O. Renault; E. Martinez

Home
Submit
Browse
Search
Folder
- Link
- Link
- Link
- Link
- Browse HAL known laboratories

Operando x-ray photoelectron emission microscopy for studying forward and reverse biased silicon p-n junctions

N. Barrett ¹ D. M. Gottlob ² C. Mathieu ¹ C. Lubin ¹ J. Passicousset ¹ O. Renault ³ E. Martinez ⁴

1 LENSIS - Laboratoire d'Etude des NanoStructures et Imagerie de Surface

SPEC - UMR3680 - Service de physique de l'état condensé, IRAMIS - Institut Rayonnement Matière de Saclay

2 Peter Grünberg Institute

3 CEA-LETI - Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information

4 CRO2 - Centre de Recherches en Oncologie biologique et Oncopharmacologie

N. Barrett ¹ AuthorId : 54913
Author

D. M. Gottlob ² AuthorId : 1337868
Author

C. Mathieu ¹ AuthorId : 210224
Author

C. Lubin ¹ AuthorId : 1503512
Author

J. Passicousset ¹ AuthorId : 1503513
Author

O. Renault ³ AuthorId : 102832
Author

E. Martinez ⁴ AuthorId : 37202
Author

1 LENSIS - Laboratoire d'Etude des NanoStructures et Imagerie de Surface (CEA Saclay, DSM/IRAMIS, 91191 Gif sur Yvette cedex - France) StructId : 40305

SPEC - UMR3680 - Service de physique de l'état condensé (SPEC - UMR3680 CEA-CNRS (ex-URA 2464), CEA/Saclay, Orme des Merisiers, F-91191 GIF SUR YVETTE CEDEX - France) StructId : 1401
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRF/IRAMIS (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France) StructId : 300016
- Université Paris-Saclay (Espace Technologique, Bat. Discovery - RD 128 - 2e ét., 91190 Saint-Aubin - France) StructId : 419361
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR3680 (France) StructId : 441569
IRAMIS - Institut Rayonnement Matière de Saclay (91191 Gif-sur-Yvette, France - France) StructId : 53953
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRF/IRAMIS (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France) StructId : 300016
- Université Paris-Saclay (Espace Technologique, Bat. Discovery - RD 128 - 2e ét., 91190 Saint-Aubin - France) StructId : 419361

2 Peter Grünberg Institute (Germany) StructId : 486660

Forschungszentrum Jülich GmbH (Wilhelm-Johnen-Straße, 52428 Jülich - Germany) StructId : 251883

3 CEA-LETI - Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (MINATEC 17, rue des Martyrs, 38054, Grenoble Cedex 9 - France) StructId : 40214

UGA - Université Grenoble Alpes (CS 40700 - 38058 Grenoble cedex - France) StructId : 445543
DRT (CEA) - Direction de Recherche Technologique (CEA) : DRT (France) StructId : 440043
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRT (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France) StructId : 300016

4 CRO2 - Centre de Recherches en Oncologie biologique et Oncopharmacologie (Faculté de Médecine et Faculté de Pharmacie - 27 Boulevard Jean Moulin 13385 Marseille cedex 05 - France) StructId : 46222

AMU - Aix Marseille Université : U911 (Aix-Marseille Université Jardins du Pharo 58 Boulevard Charles Livon 13284 Marseille cedex 7 - France) StructId : 198056
TIMONE - Hôpital de la Timone [CHU - APHM] : U911 (France) StructId : 300093
INSERM - Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale : U911 (101, rue de Tolbiac, 75013 Paris - France) StructId : 303623

Document type :

Journal articles

Domain :

Physics [physics]

Complete list of metadatas

https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-01481549
Contributor : Dominique Girard <>
Submitted on : Thursday, March 2, 2017 - 4:58:06 PM
Last modification on : Monday, February 25, 2019 - 4:34:20 PM

Identifiers

HAL Id : cea-01481549, version 1
DOI : 10.1063/1.4948597

Collections

Citation

N. Barrett, D. M. Gottlob, C. Mathieu, C. Lubin, J. Passicousset, et al.. Operando x-ray photoelectron emission microscopy for studying forward and reverse biased silicon p-n junctions. Review of Scientific Instruments, American Institute of Physics, 2016, 87 (5), ⟨10.1063/1.4948597⟩. ⟨cea-01481549⟩

Operando x-ray photoelectron emission microscopy for studying forward and reverse biased silicon p-n junctions

Identifiers

Collections

Citation

Export

Metrics

82

Contact

Operando x-ray photoelectron emission microscopy for studying forward and reverse biased silicon p-n junctions

Identifiers

Collections

Citation

Export

Share

Metrics

82

Contact